阻抗分析儀(LCR)

●一台儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
●LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
●基本精度±0.08%的高精度測量
●可以用於無線充電評價系統TS2400

●測量頻率DC，4Hz~8MHz
●測量時間：最快1ms
●基本精度：±0.05% rdg
●1mΩ以上的精度保證範圍，也可安心進行低阻測量

●測量頻率：1MHz~600MHz
●測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
●基本精度：±0.65% rdg.
●測量方式 : RF I-V法

●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
●在C-D和ESR的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試
●內建比較器和BIN功能
●2ms的快速測試時間

●測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz
●測量時間：最快0.5ms
●測量值偏差：0.07%
●基本精度：±0.65% rdg.
●測量方式 : RF I-V法

●除標準0m/1m以外的2m/4m電纜設置
●內建比較器和BIN功能
●2ms的快速測試時間

●適用於離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬範圍信號源
●一台機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查
●最快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化

SMD 治具

●IM7580系列專用SMD測試夾具
●測試頻率600MHz
●適用於各種形狀和尺寸的元件，可進行高頻阻抗測量
●可測元件尺寸：帶引腳的元件、SMD（貼片元件）

●IM7580系列專用SMD測試治具
●2種設備指南，可對應6種尺寸的SMD
●對應SMD尺寸※1 0603、1005、1608、2012、3216、3225
※1：JIS單位mm，相當於EIA0201～EIA1210尺寸